Neues Stand-Alone Messsystem MIC-1810 für die Maschinenüberwachung

AMC präsentiert Ihnen das neue MIC-1810. Damit bieten wir Ihnen ein Stand Alone Messsystem für die Maschinenüberwachung. Das MIC-1810 wurde als handtellergroße Embedded-Plattform mit integriertem Datenerfassungsmodul entwickelt. Das DAQ-Modul versorgt die Plattform mit Digital I/O, Analog I/O und Counter-Funktionen. Die Weiterlesen…

Strahlender Durchblick: Computertomograph analysiert Schäden in Werkstoffen unter Last

Unterschiedlichste Materialien zerstörungsfrei prüfen zu können, ist für Industrie und Wissenschaft in vielen Bereichen essentiell. Das Fraunhofer-Institut für Betriebsfestigkeit und Systemzuverlässigkeit LBF hat jetzt eine neue Methode entwickelt, die erstmals die mechanische Prüfung eines Bauteils unter realistischen Belastungen mit einer Weiterlesen…

Fraunhofer ENAS präsentiert in Japan ein optisches Monitoringsystem zur Qualitätskontrolle von Galvaniklösungen

Das Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS zeigt auf der diesjährigen MEMS Sensing & Network System vom 4. bis 6. Oktober 2017 in Chiba, Japan, einen Demonstrator eines Monitoring-Systems für Galvaniklösungen. Das System basiert auf optischer Sensorik und wurde gemeinsam mit Weiterlesen…