Untersuchung von kohlenstoffbasierten Nanopartikeln (aus Graphenschichten) mit dem JPK NanoWizard® ULTRA Speed Rasterkraftmikroskop an der Freien Universität Berlin

JPK Instruments, ein weltweit führender Hersteller von Nanoanalytik-Instrumenten für den “Life Sciences“- und “Soft Matter“-Bereich, berichtet über den Einsatz des JPK NanoWizard® ULTRA Speed Rasterkraftmikroskops (engl. Atomic Force Microscope – AFM) in der Gruppe von Professor Eigler am Institut für Weiterlesen…

Deutsch-ukrainisches Projekt: Neue Beschichtung bei Industrieanlagen soll Emissionen senken

Kaiserslauterer Ingenieure arbeiten gemeinsam mit ihren ukrainischen Forscherkollegen an einer neuartigen Beschichtung. Diese soll auf keramischen Bauteil-Oberflächen von Industrieanlagen zum Einsatz kommen und sie resistenter gegenüber Schäden machen. Auf diese Weise ließe sich auch die Emission schädlicher Gase reduzieren. Um Weiterlesen…