Produktionstechnik
Das neue SPECTROGREEN mit Twin Interface bietet höchste Messempfindlichkeit für Spurenelemente
SPECTRO Analytical Instruments hat heute die Einführung der neuesten Modellvariante des SPECTROGREEN ICP-OES bekanntgegeben: Das SPECTROGREEN TI mit bewährter Twin Interface Technologie kombiniert automatisch die axiale und radiale Plasmabetrachtung. Auf diese Weise optimiert es Messempfindlichkeit, Linearität sowie Dynamikbereich und vermeidet Weiterlesen…









