Optische Technologien
RoodMicrotec nutzt die UFO Probe® Card-Technologie von Jenoptik für seine PIC-Wafer-Level-Tests
Final-Tests sind ein wichtiger Bestandteil der Supply Chain von elektronischen Bauteilen. Für integrierte Schaltkreise (ICs) sind diese fest etabliert – für integrierte photonische Schaltkreise (PICs) ist das Test-Eco-System noch im Aufbau. Einen essenziellen Baustein für neuartige PIC-Wafer-Level-Tests liefert Jenoptik mit Weiterlesen…







