3D-Prüfung unbestückter Leiterplatten

Um eine vollautomatische Inline-Prüfung unbestückter Leiterplatten zu ermöglichen, werden 3D-Snapshotsensoren von Micro Epsilon eingesetzt. Im Gegensatz zu herkömmlichen Prüfsystemen wie Messmikroskopen sind sie wirtschaftlicher und arbeiten deutlich schneller. Für High-End-Substrate aus Keramik gelten Fertigungstoleranzen von bis zu 2 µm, die Weiterlesen…

Präzise 3D-Inspektion spiegelnder Oberflächen

Der reflectCONTROL Sensor führt 3D-Oberflächeninspektionen von spiegelnden und glänzenden Oberflächen aus. Die präzise Erkennung von Abweichungen ermöglicht die Einhaltung höchster Qualitätsansprüche. Ebenheitsabweichungen im Bereich weniger Mikrometer werden zuverlässig erfasst. Die Überwachung kann stationär in der Fertigungslinie sowie roboterbasiert erfolgen. Wenn Weiterlesen…

Innovativer 3D-Snapshot-Sensor zur Inline-Prüfung von Geometrie, Form und Oberflächen

Der innovative Sensor surfaceCONTROL 3D 3500 von Micro-Epsilon wird zur hochpräzisen Inline-3D-Messung eingesetzt. Mit einer Wiederholpräzision von bis zu 0,4 µm in z-Richtung erreicht der Sensor eine neue Leistungsklasse. Der Snapshot-Sensor ermöglicht eine echte 3D-Auswertungen von Geometrie, Form und Oberfläche Weiterlesen…