Elektrotechnik
Mikrochips mit Tiefenstruktur sollen Teilchen nach ihrem Einfallswinkel unterscheiden
Fraunhofer-Forschende haben gemeinsam mit der Universität Münster einen waferbasierten Fertigungsprozess für eine neuartige, winkelabhängig messende Siliziumdiode entwickelt. Die Energiefilter-Diode soll künftig dabei helfen, Signal- und Hintergrundelektronen zu unterscheiden, die mit nahezu gleicher Energie, aber unterschiedlichen Einfallswinkeln auf einen Detektor treffen. Eine mögliche Anwendung ist das internationale KATRIN-Experiment zur Bestimmung der Weiterlesen…









