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RISE Mikroskopie von WITec jetzt mit ZEISS Sigma 300 REM

Korrelatives Raman-SEM Imaging (kurz RISE Mikroskopie) ist jetzt mit einem weiteren Elektronenmikroskop möglich, dem ZEISS Sigma 300, einem Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM). Dieses Produkt besteht aus dem ZEISS Sigma 300 mit unveränderter Vakuumkammer und einem voll ausgerüsteten konfokalem Raman-Mikroskop mit Spektrometer. WITec und ZEISS haben dieses System gemeinsam entwickelt, um ein vollintegriertes Weiterlesen…

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WITec Paper Award 2017 für hervorragende wissenschaftliche Veröffentlichungen

Unter fast 60 Einsendungen für den WITec Paper Award 2017 ermittelte unsere Jury die drei besten Artikel. Sie waren von Wissenschaftlern aus Irland, Portugal sowie Deutschland eingereicht worden, die Übergangsmetall-Dichalcogenide (TMDC), Textilfasern und Zement mit konfokalen Raman-Mikroskopen von WITec untersuchten. Die Artikel dokumentieren in eindrucksvoller Weise, wie sich mit dieser Weiterlesen…

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