Simultane Längen- und Winkelmessung: Worauf es in der Praxis ankommt

Eine Lösung für diese Herausforderung bietet die SIOS Meßtechnik GmbH mit dem SP 5000 TR. Das kompakte Dreistrahl-Interferometer erfasst simultan Längenänderungen sowie Nick- und Gierwinkel. So ermöglicht es eine präzise, zeitsparende und rückführbare Messung – alles in einem einzigen Messaufbau.

Aus der Praxis: Weniger Aufwand – bessere Daten
Bei der Kalibrierung von Linearachsen zählt jede Minute. Ein Anwender aus der Präzisionsfertigung war auf der Suche nach einer effizienteren Methode, um Positioniersysteme schnell und zuverlässig zu prüfen. Klassische Verfahren erwiesen sich als zeitintensiv, da nach jeder Korrektur erneut gemessen werden musste – ein aufwändiger Prozess mit hohem Justageaufwand.

Durch den Einsatz des Dreistrahl-Laserinterferometers SP 5000 TR von SIOS ließ sich dieser Prozess deutlich optimieren. Da Längenänderungen sowie Nick- und Gierwinkel gleichzeitig und in Echtzeit erfasst werden, konnten Abweichungen sofort erkannt und korrigiert werden. Das reduzierte nicht nur den Aufwand erheblich, sondern verkürzte auch die gesamte Kalibrierzeit – bei durchgängig hoher Präzision im Nanometerbereich.

Nur Längen messen reicht nicht mehr
„Eine reine Längenmessung ohne gleichzeitige Winkelmessung ist heute nicht mehr state of the art. Werden Verkippungen während der Messung nicht korrekt erfasst, kommt es zu Fehlern.Ich bin überzeugt, dass die dynamische und synchrone Erfassung von Längen-, Nick- und Gierwinkelwerten einen erheblichen Mehrwert bietet. Wenn alle Messgrößen schnell erfasst werden, lassen sich auch Umwelteinflüsse deutlich besser kontrollieren", so Dr. Denis Dontsov, Geschäftsführer der SIOS Meßtechnik GmbH.

Kostenfreies Fachwissen: Whitepaper zur simultanen Längen- und Winkelmessung
Im neuen, kostenfreien Whitepaper von SIOS erhalten Messtechniker, Qualitätsingenieure, Produktionsleiter und R&D-Ingenieure fundierte Einblicke in die Welt der simultanen Längen- und Winkelmessung. Das Dokument erklärt nicht nur die technischen Grundlagen des innovativen Dreistrahl-Interferometers SP 5000 TR, sondern zeigt auch, wie es in der Praxis eingesetzt wird – von der präzisen Justage bis zur Kalibrierung unter extremen Bedingungen.

Anhand von acht Case Studies – von der Abbe-fehlerkompensierten Längenmessung bis zur Anwendung im Vakuum – wird deutlich, wie sich Nanometerpräzision auch unter anspruchsvollsten Bedingungen zuverlässig erzielen lässt.

Das Whitepaper ist eine wertvolle Entscheidungshilfe für alle, die auf höchste Genauigkeit angewiesen sind.

• www.sios-precision.com/anwendungen/simultane-laengen-und-winkelmessungen